双日出资大型3D形状测量公司XTIA
2020年2月21日
双日株式会社
株式会社XTIA(公司原名:株式会社光梳,以下简称“XTIA”)是全球唯一一家应用诺贝尔物理学奖获奖技术“光学频率梳”成功商品化的技术开发企业。双日株式会社(以下简称“双日”)接受该公司的新发股预定权,以利用该技术在国内外共同推广新服务和新业务为目的,投资该公司。
使用“世界上精度最高的尺子”原理的XTIA光学频率梳-非接触式三维形状测量仪自2016年推出以来,被日本国内绝大多数汽车制造商购入,目前正在引入批量生产线。(富士经济集团调查结果显示,2017-2019年连续3年稳居在线汽车零部件检测市场占有率首位)
【非接触式三维形状测量仪特点】
双日与日本国内最大的汽车零件品质检测公司Green Tec合作,收购了美国大型品质检测服务供应商Stratosphere Quality LLC(*),为汽车、汽车零件厂家等客户提供服务,致力于品质检测事业。通过本次投资,利用光学频率梳技术,使用非接触式3D形状测量传感器开启品质检测的外包业务,将目前为止难以实现的自动化检测成为可能,并将最终用户的初期投入负担最小化。
(*)请参考 2017 年7 月6 日的公司新闻
双日利用具有压倒性优势的光学频率梳技术在日本国内外广泛开展外包检测业务和其他服务,我们的目标是扩大本公司的品质检测业务,并为检测过程自动化的普及做出贡献。
(参考资料)
XTIA 公司概要
公司名称 | 株式会社 XTIA |
---|---|
成立时间 | 2002 年4 月 |
地址 | 东京都千代田区神田三崎町 3-6-12 神田三崎町大厦 3F |
代表人 | 代表董事社长 八木 贵郎 |
主要业务内容 | 光学频率梳发生器及其应用等相关设备的开发和销售 |